[发明专利]存储器有效

专利信息
申请号: 200610094023.9 申请日: 2006-06-21
公开(公告)号: CN1885547A 公开(公告)日: 2006-12-27
发明(设计)人: 山田光一 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;H01L27/112
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李香兰
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供可以减小存储单元尺寸的存储器。该存储器具有:在p型硅基板(11)的主表面上形成,作为在存储单元(9)中包含的二极管(10)的阴极和字线(7)起作用的n型杂质区域(12);在n型杂质区域(12)的表面隔开规定间隔地形成多个,且作为二极管(10)的阳极起作用的p型杂质区域(14);在p型硅基板(11)上形成,与p型杂质区域(14)连接的位线(8);和设置在位线(8)的上层,以每个规定间隔与n型杂质区域(12)连接的布线层(27)。
搜索关键词: 存储器
【主权项】:
1.一种存储器,具有:在半导体基板的主表面上形成,作为在存储单元中包含的二极管的一个电极以及字线起作用的第1导电型的第1杂质区域;在上述第1杂质区域12的表面隔开规定间隔地形成多个,且作为上述二极管的另一个电极起作用的第2导电型的第2杂质区域;在上述半导体基板上形成,与上述第2杂质区域连接的位线;和设置在上述位线的上层,以每个规定间隔与上述第1杂质区域连接的布线。
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