[发明专利]制造硅单晶的方法无效

专利信息
申请号: 200610092779.X 申请日: 2006-06-14
公开(公告)号: CN1932085A 公开(公告)日: 2007-03-21
发明(设计)人: 岸田丰;竹林圣记;玉木辉幸 申请(专利权)人: 硅电子股份公司
主分类号: C30B15/00 分类号: C30B15/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 程大军;过晓东
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 目的:在通过切克劳斯基法、利用石英坩埚制造硅单晶的方法中,在不受晶体直径及熔体初始进料量变化的影响下,以高的收率制得氧浓度分布均匀的硅单晶。结构:依据坩埚转速(Ω)、坩埚温度(T)及熔融硅与坩埚内壁接触面积及熔融硅与大气接触面积的比例(β)三个参数的关系,并通过利用石英熔入熔体内的溶解能(E)、以函数1/β×Exp(-E/T)结合温度(T)及比例(β),通过预测生长中硅单晶中的氧浓度来调节硅单晶中的氧浓度,以控制转速(Ω)及温度(T)中的至少一个,使预测的氧浓度与目标浓度一致。
搜索关键词: 制造 硅单晶 方法
【主权项】:
1、一种利用石英坩埚、通过切克劳斯基方法制造硅单晶的方法,其包括:根据坩埚转速(Ω)、坩埚温度(T)及熔融硅和坩埚内壁接触面积与熔融硅和大气接触面积的比例(β)三个参数的关系预测生长中硅单晶中的氧浓度;以及控制坩埚转速(Ω)及坩埚温度(T)中的至少之一,使所预测的氧浓度与目标浓度一致。
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