[发明专利]用于校准自动电路测试系统的系统、方法和计算机程序有效
| 申请号： | 200610090514.6 | 申请日： | 2006-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN1892246A | 公开（公告）日： | 2007-01-10 |
| 发明（设计）人： | 杉原宪幸 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 在一个实施例中，自动电路测试系统是通过将第一校准单元电耦合在测试系统的多个驱动器和比较器之间，然后执行AC定时校准过程以确定针对第一组关系中的每一个的定时延迟来校准的。然后，第二校准单元被电耦合在多个驱动器和比较器之间，并且AC定时校准过程被执行，以确定针对第二组关系中的每一个的定时延迟。第一和第二校准单元包括分别根据第一和第二组关系来耦合驱动器和比较器对的固定接线路径。基于定时延迟和驱动器/比较器关系对方程组进行求解，以确定由测试系统中包括驱动器和比较器的信号路径引入的相对定时误差。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校准 自动 电路 测试 系统 方法 计算机 程序 | ||
【主权项】：
1.一种用于校准自动电路测试系统的方法，包括：将第一校准单元电耦合在所述测试系统的多个驱动器和比较器之间，所述第一校准单元包括根据第一组关系来耦合所述驱动器和比较器的对的固定接线路径；当所述第一校准单元被耦合在所述多个驱动器和比较器之间时执行AC定时校准过程，从而确定针对所述第一组关系中的每一个的定时延迟；将第二校准单元电耦合在所述多个驱动器和比较器之间，所述第二校准单元包括根据第二组关系来耦合所述驱动器和比较器的对的固定接线路径；当所述第二校准单元被耦合在所述多个驱动器和比较器之间时执行AC定时校准过程，从而确定针对所述第二组关系中的每一个的定时延迟；以及基于所述定时延迟和驱动器/比较器关系来求解方程组，以确定i)由所述测试系统的包括所述驱动器的信号路径引入的相对定时误差，以及ii)由所述测试系统的包括所述比较器的信号路径引入的相对定时误差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安捷伦科技有限公司，未经安捷伦科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610090514.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：图像信号处理装置以及图像信号的处理方法
- 下一篇：容器
