[发明专利]一种校正自适应光学系统中共模波前传感器标定方法有效

专利信息
申请号: 200610089150.X 申请日: 2006-08-07
公开(公告)号: CN1904665A 公开(公告)日: 2007-01-31
发明(设计)人: 胡诗杰;许冰;陈善球 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00;G01J9/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人: 关玲;成金玉
地址: 610209*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种校正自适应光学系统中共模波前传感器标定方法,其特征在于:在全光路像差校正自适应光学系统工作光路条件下,从共孔径分光镜前引入平行光,该平行光透过共孔径分光镜,经后向反射器阵列反射回共孔径分光镜,再经共孔径分光镜反射至共模波前传感器,同时标定共模波前传感器包含的两套波前传感器。本发明对标定光源的平行度要求较低,而且可以避免搬动设备带来的风险,节约了成本,减少了工作量。
搜索关键词: 一种 校正 自适应 光学系统 中共 模波前 传感器 标定 方法
【主权项】:
1、一种校正自适应光学系统中共模波前传感器标定方法,其特征在于:在全光路像差校正自适应光学系统工作光路条件下,从共孔径分光镜前引入平行光,该平行光透过共孔径分光镜,经后向反射器阵列反射回共孔径分光镜,再经共孔径分光镜反射至共模波前传感器,同时标定共模波前传感器包含的两套波前传感器。
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