[发明专利]评价装置、评价方法和光盘制造方法

摘要

一种用于评价记录在光盘记录介质上的次级数据的记录质量的评价装置，其中在光盘记录介质上，初级数据被记录为凹坑和岸台的组合，所述评价装置包括以下元件：读取单元，其可操作用于读取基于照射在光盘记录介质上的重放功率的激光束的反射光信息的信号；二元化单元，其可操作用于在预定级别处对读取单元读取的信号分片，并输出结果作为二元信号；以及抖动计算单元，其可操作用于基于边缘偏移量的标准偏差和平均值以及关于预定最小偏移量的信息来计算边缘偏移量的抖动，预定最小偏移量被确定为可由二元判决检测为边缘偏移的最小偏移量。

主权项

1.一种用于评价记录在光盘记录介质上的次级数据的记录质量的评价装置，其中在所述光盘记录介质上，不同于所述次级数据的初级数据被记录为凹坑和岸台的组合，所述次级数据是通过以预定记录功率的激光束照射形成在多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分来引入边缘偏移而被记录的，所述评价装置包括：读取装置，用于读取基于照射到所述光盘记录介质上的重放功率的激光束的反射光信息的信号；二元化装置，用于在预定级别处对所述读取装置读取的信号分片，并输出结果作为二元信号；以及抖动计算装置，用于在形成在所述多个位置处的凹坑和岸台之间的边缘部分中，计算引入了边缘偏移的部分中的边缘偏移量的抖动，其中所述边缘偏移量是基于由所述二元化装置获得的二元信号来测量的，所述抖动是基于所述边缘偏移量的标准偏差和平均值以及关于预定最小偏移量的信息来计算的，所述预定最小偏移量被确定为可由二元判决检测为边缘偏移的最小偏移量。