[发明专利]用计次识别换相失败的方法有效

专利信息
申请号: 200610085612.0 申请日: 2006-06-28
公开(公告)号: CN1896757A 公开(公告)日: 2007-01-17
发明(设计)人: 李海英;王俊生;卢宇 申请(专利权)人: 南京南瑞继保电气有限公司
主分类号: G01R31/08 分类号: G01R31/08
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 代理人: 汤志武;王鹏翔
地址: 211100*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 判断换流阀组换相失败的计次方法,由以下2个部分构成:换相失败判断元件和计次元件,计次方法分单桥和双桥或任意桥计次;单桥计次又分Y桥计次和D桥计次;满足条件的一次换相失败,计为Y桥计次脉冲;或满足条件的一次换相失败,计为D桥计次脉冲;满足条件的换相失败,均计为一次双桥计次脉冲;Y桥或D桥或双桥计次脉冲,接入各自的计次元件的计次脉冲输入端;换相失败在设定的时间宽度内,次数到达计次定值,则换相失败计次原理保护动作。
搜索关键词: 用计 识别 失败 方法
【主权项】:
1、用计次识别换相失败的方法,其特征是由以下2个部分构成:(1)换相失败判断元件|IVY|=max(abs(IVY_L1),abs(IVY_L2),abs(IVY_L1)),或者|IVY|=0.5*(abs(IVY_L1)+abs(IVY_L2)+abs(IVY_L1))|IVD|=max(abs(IVD_L1 IVD_L2),abs(IVD_L2 IVD_L3),abs(IVD_L3IVD_L1)),或者|IVD|=0.5*(abs(IVD_L1 IVD_L2)+abs(IVD_L2 IVD_L3)+abs(IVD_L3IVD_L1))式中,IVY指阀侧Y接绕组的电流,IVD指阀侧Δ接绕组的电流;Lx---x=1,2,3,指a,b,c相。IDP-|IVY|>定值1且|IVY|<定值2*IDP (3)IDP-|IVD|>定值1且|IVD|<定值2*IDP (4)式中,IDP指极母线阀侧直流电流。IDP也可以用IDNC代替,IDNC指中性线阀侧直流电流;使用条件(3)或(4),5毫秒单稳输出;作为一次换相失败产生,即一个计次脉冲;(2)计次元件:输入端----时间宽度、计次脉冲、计次定值、使能端;输出端----动作出口;参数:最大计次个数;每个计次脉冲到达,计次计数器加1;在时间宽度窗内,计次计数器达到计次定值,且使能端为真,则动作出口为真;时间宽度窗是一个动态连续移动窗;若使能端为假,则任何时候动作出口均为假;计次定值是一个输入的设定值;当设定的计次定值大于参数值时,实际计次定值为参数值;计次方法分单桥和双桥或任意桥计次;单桥计次又分Y桥计次和D桥计次;满足条件(3)的一次换相失败,计为Y桥计次脉冲;或满足条件(4)的一次换相失败,计为D桥计次脉冲;满足条件(3)或(4)的一次换相失败,均计为一次双桥计次脉冲;Y桥或D桥或双桥计次脉冲,接入各自的计次元件的计次脉冲输入端;换相失败在设定的时间宽度内,次数到达计次定值,则换相失败计次原理保护动作。
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