[发明专利]半可抛式光电快速诊断测试系统无效

专利信息
申请号: 200610083620.1 申请日: 2006-05-29
公开(公告)号: CN1948952A 公开(公告)日: 2007-04-18
发明(设计)人: R·肖恩·墨菲;罗伯特·H·伊;布伦顿·A·鲍;罗伯特·E·威尔逊 申请(专利权)人: 安捷伦科技有限公司
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N33/50
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人: 柳春雷
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种手持式光电测试系统,其包括盒和读取器,所述盒包括预先对准的至少一个光源和传感器以允许获取来自例如反应区域中测试膜上与试剂反应的流体试样的电光学数据,所述读取器处理获取的数据以识别流体试样中的物理改变。盒和读取器可操作以在变成可抛弃之前分离预先确定的或可控的有限测试次数。
搜索关键词: 半可抛式 光电 快速 诊断 测试 系统
【主权项】:
1.一种用于对流体试样中的光学改变进行感知的化验测试装置,包括:盒;所述盒中的反应区域,所述反应区域包括至少一种被分析物俘获试剂,所述被分析物俘获试剂与流体试样反应时能够在所述流体试样中引起光学改变,所述反应区域用于接纳所述流体试样;所述盒中的至少一个光源,所述光源用于将光发射到所述反应区域上;位于所述盒中的至少一个光电传感器,用于检测从所述反应区域发出的光并产生相关的传感器数据;所述盒中的接口,经过所述接口向所述至少一个光源和至少一个光电传感器提供电能,并经过所述接口输出所述传感器数据;读取器,所述读取器包括可在能传送数据和电能的连接中与所述盒接口匹配的接口,所述读取器还包括微处理器,所述微处理器通过对输出的所述传感器数据进行解释而产生测试结果。
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