[发明专利]工件测量的装置和方法有效

专利信息
申请号: 200610082724.0 申请日: 2006-05-15
公开(公告)号: CN1861317A 公开(公告)日: 2006-11-15
发明(设计)人: 德克·扬;默克·维特 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: B23Q17/22 分类号: B23Q17/22;B23Q17/24;G01B11/00;G01B21/00;G05B19/401
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邵亚丽;李晓舒
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于确定工件(1)的位置信息的装置和方法。为了快速测量工件(1)相对于为了加工该工件而设置的工具的相对位置,提议该装置具有用于采集该工件(1)的至少一个子区域的摄像机(2);用于基于由该摄像机(2)采集的子区域确定该工件(1)的几何参数(4)的第一处理装置(3);用于存储该工件(1)的几何模型(5)的存储器;用于通过用该几何模型(5)调整几何参数(4)来确定工件(1)的位置信息的第二处理装置(6)。其中,位置信息用于确定工件(1)相对于为了加工该工件(1)而设置的工具的位置。
搜索关键词: 工件 测量 装置 方法
【主权项】:
1.一种用于确定工件(1)的位置信息的装置,该装置包括:-用于采集该工件(1)的至少一个子区域的摄像机(2),-基于由该摄像机(2)采集的子区域确定该工件(1)的几何参数(4)的第一处理装置(3),-用于存储该工件(1)的几何模型(5)的存储器,-通过用该几何模型(5)调整几何参数(4)来确定该工件(1)的位置信息的第二处理装置(6),其中,所述位置信息用于确定工件(1)相对于为了加工该工件(1)而设置的工具的位置。
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