[发明专利]选择性测试方法及其测试设备无效
| 申请号： | 200610080904.5 | 申请日： | 2006-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN1987819A | 公开（公告）日： | 2007-06-27 |
| 发明（设计）人： | 李在甲;金智贤 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;H04L12/26 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;冯敏 |
| 地址： | 韩国京畿道水*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种选择性测试方法及其设备。所述选择性测试方法包括：存储包括由测试脚本执行的一个或多个测试项的测试信息；如果选择所述测试项之一，则存储选择的包括选择的测试项的测试信息；将存储的测试信息与存储的选择的测试信息进行比较；和如果确定所述测试信息与选择的测试信息相同，则执行与选择的测试项相应的测试脚本。因此，用于让用户容易地识别测试脚本的接口被提供，从而可根据各种项执行选择性测试，而不依赖于某个自动测试工具。 | ||
| 搜索关键词： | 选择性 测试 方法 及其 设备 | ||
【主权项】：
1、一种选择性测试方法，包括：存储包括由测试脚本执行的一个或多个测试项的测试信息；选择所述测试项之一；存储选择的包括选择的测试项的测试信息；将存储的测试信息与存储的选择的测试信息进行比较；和如果确定所述测试信息与所述选择的测试信息相同，则执行与选择的测试项相应的测试脚本。
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