[发明专利]照射试样的方法有效
| 申请号： | 200610079346.0 | 申请日： | 2006-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN1869649A | 公开（公告）日： | 2006-11-29 |
| 发明（设计）人： | B·维茨戈夫斯基 | 申请（专利权）人： | 莱卡微系统CMS有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 魏军 |
| 地址： | 德国韦*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种照射一试样或该试样的一个区域(关注区域ROI)的方法，在该方法中，将关于试样上的一个具体的点是否应该被照亮以及用什么方式照亮的信息，按照一个具体的地址存储在一个数据存储器中，其特征在于：检测试样的位置、取向和/或形状的变化，据此进行被照射的图形点的坐标转移，为被转移的坐标单值地分配存储器地址，根据存储器地址的原理在一个存储器上存取，并读取其内容来控制光源。 | ||
| 搜索关键词： | 照射 试样 方法 | ||
【主权项】：
1.照射一试样或该试样的一个区域(关注区域ROI)的方法，在该方法中，将关于试样上的一个具体的点是否应该被照亮以及用什么方式照亮的信息，按照一个具体的地址存放在一个数据存储器中，其特征在于：检测试样的位置、取向和/或形状的变化，据此进行被照射的图形点的坐标转移，为被转移的坐标单值地分配存储器地址，根据存储器地址的原理在一个存储器上存取，并读取其内容来控制光源。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于莱卡微系统CMS有限责任公司，未经莱卡微系统CMS有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610079346.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：应用于光驱与光盘片间的聚焦控制方法
- 下一篇：摄像装置
