[发明专利]半导体电路、半导体装置以及该半导体电路的检查方法无效
| 申请号： | 200610075481.8 | 申请日： | 2006-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN1851487A | 公开（公告）日： | 2006-10-25 |
| 发明（设计）人： | 伊藤弘朗 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28;H03K17/74;H03K17/60 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邵亚丽;李晓舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的半导体电路，第一二极管、第一电阻元件被串联连接在固定电位点和检测端子之间。第二二极管、第二电阻元件被串联连接在第二固定电位点和检测端子之间。通过与检测端子连接的电源的设定而切换第一电阻元件、第二电阻元件中流过的电流，通过流过并测量仅使第一电阻元件、第二电阻元件的一个导通的范围内的多个电流，可以以一个端子检测第一电阻元件、第二电阻元件。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 电路 装置 以及 检查 方法 | ||
【主权项】：
1、一种半导体电路(10)，具有被测量电阻值的第一电阻元件(R1)和第二电阻元件(R2)，其特征在于，还包括：第一固定电位点(11)和第二固定电位点(12)；第一开关部(D1)和第二开关部(D2)；用于测量所述电阻值的所述第一电阻元件(R1)和所述第二电阻元件(R2)共用的检测端子(TEST)，所述第一开关部(D1)通过基于被施加在所述第一固定电位点(11)和所述检测端子(TEST)之间的电位差所进行的开关动作，切换导通状态和截止状态，所述第二开关部(D2)通过基于被施加在所述第二固定电位点(12)和所述检测端子(TEST)之间的电位差所进行的开关动作，切换导通状态和截止状态，所述第一开关部(D1)和所述第一电阻元件(R1)被串联连接在所述第一固定电位点(11)和所述检测端子(TEST)之间，所述第二开关部(D2)和所述第二电阻元件(R2)被串联连接在所述第二固定电位点(12)和所述检测端子(TEST)之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社，未经夏普株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610075481.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
