[发明专利]一种粉体金属电阻率测量方法及装置

摘要

本发明涉及一种新型粉体金属材料电阻率的测试方法及测试装置，其特征是测量被测粉体材料在不同密度下的电阻值，再计算出相应的电阻率和电导率，从而得到描述粉体材料电性能的曲线。测试装置由压力机构、微位移测试装置、精密电桥、样品盒等组成。压力机构用于改变样品盒中粉体材料的体积，微位移测量装置实时记录体积的变化，精密电桥记录相应压力下的粉体电阻值。该测量方法和装置可用于镍粉(包括超细镍粉)电阻率的测量，也可用于其它金属粉体材料、非金属粉体材料以及纳米材料电阻率和电导率的测量，它将在材料学、电子技术等行业发挥作用。

主权项

1.一种新型粉体金属电阻率测量方法，其特征是借助外部压力，在不改变被测粉体材料微观形貌前提下改变粉体材料的密度，通过测量相应的电阻和密度，计算出电阻率和电导率。这样，由小到大连续改变作用于粉体材料上的压力，则可得到描述材料电性能的电阻率随压力或材料密度变化曲线。