[发明专利]一种优化的表贴测试点及对其优化的方法无效

专利信息
申请号: 200610061900.2 申请日: 2006-07-27
公开(公告)号: CN1900730A 公开(公告)日: 2007-01-24
发明(设计)人: 陈方勇;王晓东 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/00
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 代理人: 欧阳启明
地址: 518129广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种优化的表贴测试点及对其优化的方法,包括:增加表贴测试点与其相邻平面的距离以增加表贴测试点的阻抗值,抵消添加所述的表贴测试点引起的微带线阻抗值的变化。本发明克服现有技术的不足,采用增加表贴测试点与其相邻平面的距离以增加表贴测试点阻抗值,从而抵消因添加表贴测试点导致的微带线阻抗值减小的技术方案,使测试系统在添加表贴测试点时,降低甚至消除微带线的阻抗值的不连续性,极大的减小添加表贴测试点后对高速信号的影响。
搜索关键词: 一种 优化 测试 方法
【主权项】:
1、一种对表贴测试点优化的方法,其特征在于,所述的方法包括如下步骤:a、增加表贴测试点与其相邻平面的距离以增加表贴测试点的阻抗值,抵消添加所述的表贴测试点引起的微带线阻抗值的变化。
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