[发明专利]模具对芯侦测器、侦测方法及具有该对芯侦测器的模具组合无效
申请号: | 200610060187.X | 申请日: | 2006-04-05 |
公开(公告)号: | CN101049720A | 公开(公告)日: | 2007-10-10 |
发明(设计)人: | 张仁淙 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | B29C33/30 | 分类号: | B29C33/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种模具对芯侦测器,其包括:一发光模组、一光接收模组及一信号处理装置,该发光模组用于产生一平行投射光束,该光接收模组用于接收处理来自发光模组的平行投射光束并产生一信号,该信号处理装置与该光接收装置相连,用于处理来自光接收模组的信号。本发明还提供一种模具对芯的侦测方法以及具有该模具对芯侦测器的模具组合。通过使用模具对芯侦测器可以对模具开合模位置偏移量进行即时侦测,利用即时侦测的数据,可即时得知模具在开合模过程凸模与凹模的对位偏移量的变化,便于在光学透镜的模造制作过程中进行有效的质量参数控制,提高光学透镜产品品质和良率,延长模具的使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 模具 侦测 方法 具有 组合 | ||
【主权项】:
1.一种模具对芯侦测器,其特征在于,包括发光模组、光接收模组及信号处理装置;该发光模组包括发光装置及第一固定底座,该发光装置位于该第一固定底座上,用于产生一平行投射光束;该光接收模组包括光接收装置、光学调整架及第二固定底座,该光接收装置位于该光学调整架上,用于接收处理来自发光模组的平行投射光束并产生一信号,该光学调整架位于该第二固定底座上,用于调整光接收装置相对于发光装置的位移,该信号处理装置与该光接收装置相连,用于处理来自光接收模组的信号。
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