[发明专利]自动光学检测系统无效

专利信息
申请号: 200610058708.8 申请日: 2006-03-02
公开(公告)号: CN1831467A 公开(公告)日: 2006-09-13
发明(设计)人: 崔铉镐;俞泰明 申请(专利权)人: AJU高技术公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01C11/00
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 代理人: 武玉琴;张友文
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种自动光学检测系统,包括:用于提供检测对象的装载器;初级视觉检测组件,其用于检测装载器所提供的检测对象的表面;以及用于卸载已被检测的检测对象的卸载器。所述初级视觉检测组件包括:多个用于传送检测对象的支架;以及多个图像拾取部件,用于对支架所传送的检测对象的表面进行拍摄。所述图像拾取部件包括摄像机和用于将光照射到检测对象的照明部件。每个支架均包括一对彼此分隔开的支架辊,而且,所述照明部件包括用于经由所述一对支架辊之间的缝隙、将光照射到检测对象的透射照明装置。
搜索关键词: 自动 光学 检测 系统
【主权项】:
1.一种自动光学检测系统,用于检测上面连续形成有挠性印制电路板单元的检测对象,该自动光学检测系统包括:用于提供检测对象的装载器;初级视觉检测组件,其用于检测装载器所提供的检测对象的表面;以及用于卸载已被检测的检测对象的卸载器,其中,所述初级视觉检测组件包括:多个用于传送检测对象的支架;多个图像拾取部件,用于对支架所传送的检测对象的表面进行拍摄,该图像拾取部件包括摄像机和用于将光照射到检测对象的照明部件,其中,每个支架均包括一对彼此分隔开的支架辊,而且,所述照明部件包括透射照明装置,用于经由所述一对支架辊之间的缝隙、将光照射到检测对象上。
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