[发明专利]一种等离子显示屏缺陷检查方法

摘要

一种检查等离子显示屏图形缺陷的方法，采用高分辨率摄像机获取等离子显示屏基板表面图像，将获取到的图像进行阈值化处理，将阈值化处理后得到的阈值化图像和预置的检测用标准图像进行差值相减处理，根据检查条件进行筛选，从而检查缺陷点，采用本检查方法无需进行多次重复计算，可以快速检测出等离子显示屏上的图形缺陷，同时，对于传统方法无法检查的非周期性图形部分，采用本方法也可以进行缺陷检查。

主权项

1、一种等离子显示屏缺陷的检查方法，用CCD摄像机获取基板表面图形图像，其特征在于，将获取到的图像进行阈值化处理，按照灰度值差别描绘出基板表面图像的边缘，将基板图形上的对位标记与定义的用于图形比对的检测用标准图像上相对应的对位标记进行比对，确定摄像机获取的图像和检测用标准图像间存在的位移和旋转量，并根据位移和旋转量对摄取到的图像进行相应校正，其次，将阈值化处理后的基板表面图像数据和定义的检测用标准图像进行差值相减处理，得到包含有缺陷点数据的二值化图像，将得到的二值化图像按照与缺陷的大小设定的阈值相比较，超出此阈值的点判断为缺陷点，也可以与设定的灰度值阈值相比较，差值相减后的二值化图像超过该灰度值阈值即判断为缺陷点。