[发明专利]一种CMOS工艺兼容的嵌入悬浮螺管结构电感或互感的制作方法有效
申请号: | 200610029276.8 | 申请日: | 2006-07-21 |
公开(公告)号: | CN1889233A | 公开(公告)日: | 2007-01-03 |
发明(设计)人: | 李昕欣;顾磊 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/822;H01L21/00 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 潘振甦 |
地址: | 200050*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种与CMOS工艺兼容的嵌入悬浮螺管结构电感或互感的制作方法,其特征在于首先在硅片的表面电镀出电感或互感的上导线,再利用各向异性腐蚀形成“V”字形或倒梯形的沟槽,在沟槽里面制作电感或互感的下导线,并使下导线与上导线在硅片表面处交叠,形成良好的电连接,最后采用XeF2气体各向同性干法腐蚀释放出整个线圈结构。电感或互感的线圈由两边的二氧化硅层支撑。本发明采用常温工艺在普通硅片上实现一种高Q值(品质因数)的螺管形电感或高增益的互感,工艺步骤简明、成品率高,整个器件工艺与CMOS工艺相兼容。且器件悬浮的嵌入于硅片内部,有利于封装和后序工艺加工。 | ||
搜索关键词: | 一种 cmos 工艺 兼容 嵌入 悬浮 结构 电感 互感 制作方法 | ||
【主权项】:
1、一种与CMOS工艺兼容的嵌入式悬浮螺管结构电感或互感的制作方法,其特征在于首先在硅片的表面电镀出电感或互感的上导线,再利用各向异性腐蚀形成“V”字形或倒梯形的沟槽,在沟槽里面制作电感或互感的下导线。并使下导线与上导线在硅片表面处交叠,形成良好的电连接,最后采用XeF2气体各向同性干法腐蚀释放出整个线圈结构。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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