[发明专利]一种基于硅纳米线的异质pn结二极管及其制备方法无效

专利信息
申请号: 200610019782.9 申请日: 2006-08-01
公开(公告)号: CN1889275A 公开(公告)日: 2007-01-03
发明(设计)人: 方国家;李春;程彦钊;何俊 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 武汉华旭知识产权事务所 代理人: 刘荣
地址: 43007*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种基于硅纳米线的异质pn结二极管及其制备方法,该二极管的特殊之处是其pn结是在以垂直定向生长的p-型硅纳米线阵列中沉积n型宽带隙氧化物而成的p-硅纳米线/n-宽带隙氧化物异质pn结。该二极管的制备方法为:先用无电极金属电化学沉积法在p型硅片上电化学刻蚀形成p型硅纳米线,再以形成的垂直排列的p型硅纳米线阵列为模板沉积n型宽带隙氧化物,最后在p型硅背面和n型氧化锌表面分别溅射金属电极,通过后退火合金化形成欧姆接触电极。此方法所制备的p-Si/n-宽带隙氧化物异质pn结二极管充分利用了纳米结构所具有的大的比表面积,增加了载流子复合几率,具有较低的正向开启电压和大的正向电流密度。
搜索关键词: 一种 基于 纳米 pn 二极管 及其 制备 方法
【主权项】:
1、一种基于硅纳米线的异质pn结二极管,至少包括pn结和金属电极,其特征在于:pn结是在以垂直定向生长的p-型硅纳米线阵列中沉积n型宽带隙氧化物而成的p-硅纳米线/n-宽带隙氧化物异质pn结。
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