[发明专利]电子元件测试方法无效
| 申请号： | 200610013080.X | 申请日： | 2006-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN101004432A | 公开（公告）日： | 2007-07-25 |
| 发明（设计）人： | 李平安 | 申请（专利权）人： | 天津市世海博科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/01;G01R31/02 |
| 代理公司： | 天津市杰盈专利代理有限公司 | 代理人： | 赵庆 |
| 地址： | 300190天津市南*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明属于测试方法领域，特别是电子元件的测试方法领域。电子元件测试方法，利用电子元气件芯片的特性进行反向测试，采用专门的卡具来安放电子元气件芯片，并通过金针引线与接口线路相连，在接口线路中采用专用嵌入式单片机系统为芯片提供总线接口及芯片需要的频率信号，需测试的信号经接口电路、A/D转换电路输入计算机，由计算机进行采集，然后通过专用软件进行分析和处理，来判断电子元气件是否合格。本发明可以简单而有效的甄别好的和坏的电子元器件。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种电子元件测试方法，利用电子元气件芯片的特性进行反向测试，采用专门的卡具来安放电子元气件芯片，并通过金针引线与接口线路相连，在接口线路中采用专用嵌入式单片机系统为芯片提供总线接口及芯片需要的频率信号，需测试的信号经接口电路、A/D转换电路输入计算机，由计算机进行采集，然后通过专用软件进行分析和处理，来判断电子元气件是否合格。
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