[发明专利]防伪全息产品特性参数检测方法及检测仪无效

专利信息
申请号: 200610013077.8 申请日: 2006-01-20
公开(公告)号: CN1815203A 公开(公告)日: 2006-08-09
发明(设计)人: 刘铁根;孟卓;江俊峰;苏传建;何瑾;张黎明;王宇 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G06K9/00
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 代理人: 侯力
地址: 300072天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种防伪全息产品特性参数检测方法及检测仪。检测方法利用位移机构带动样品平台进行一维位移运动,使得被测防伪全息样品相对激光器入射光斑运动,实现对防伪全息产品标识进行一维自动扫描,在扫描过程中,光电探测器实时获取扫描方向上多点光强度信号,由计算机或微处理器控制光强信号的采集,经过软件的预处理后对采集的该行数据进行分析和处理来测量其特性参数:信噪比和衍射效率,并显示和打印测量结果。检测仪包括:光源,样品平台,位移机构,光电接收装置,数据采集和控制模块组成。本发明改变了以往调整过多及不能自动测量的问题;仪器的设计实现了测量自动化,使得测量过程简便、快捷、可操作性强,降低了对操作者专业知识的要求。
搜索关键词: 防伪 全息 产品 特性 参数 检测 方法
【主权项】:
1、一种防伪全息产品特性参数检测方法,其特征是该方法依次包括:——将被测防伪全息样品放置在样品平台上并固定;——令光源发出的光束沿与样品法线成θ角(30°-60°)入射防伪全息样品;——在样品法线N方向放置一个凹面反射镜,凹面反射镜法线M与样品法线N成ψ的夹角(10°±2°);——令样品平台带动被测防伪全息样品沿与样品法线垂直方向进行一维位移运动;——将光电探测器放置于凹面反射镜的另一侧,并实时获取扫描方向上的多点光强度信号;——将光电探测器获取的光强度信号送入计算机或微处理器,对采集的该行数据进行分析和处理,通过公式计算出其特性参数:信噪比和衍射效率,并显示和打印测量结果。
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