[发明专利]一种检测勒伤缺陷的方法无效
| 申请号： | 200610011192.1 | 申请日： | 2006-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN1811403A | 公开（公告）日： | 2006-08-02 |
| 发明（设计）人： | 李路明;陈钘;杨德智;郝红伟;邓远辉 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N27/82 | 分类号： | G01N27/82 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种勒伤缺陷的无损检测方法，属于铁磁性材料的无损电磁检测领域。用磁探头在配合部件相对于孔端面高度为a处测量其磁场强度PHa，保持a的高度不变下，沿端面(环面)以小于b的步进距离分别进行测量，测得配合部件孔的一圈的磁场强度值PH，测量配合部件附件孔的磁场强度分布数据；对数据进行处理；分析数据得到结果：是否有勒伤，利用本方法检测勒伤缺陷对被检测零件无破坏性，可以进行非接触测量，方便快捷。同时作为一种磁方法，不需要对零件进行磁化和退磁等繁琐的工序，有利于针对不同工况制作勒伤检测仪，在检测过盈配合部件的勒伤缺陷中有广阔应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
1、一种勒伤缺陷的检测方法，其特征在于，该检测方法包括以下步骤：(1)测量配合部件附件孔的端面的磁场强度分布数据(1.1)用磁探头在配合部件相对于孔的端面高度为a处测量其磁场强度PHa；(1.2)保持a的高度不变下，沿端面以小于b的步进距离分别进行测量，测得配合部件孔的一圈的磁场强度值PH；(2)对数据进行处理对步骤(1)所测得的数据进行绘图：以圆周长为x轴，PH值为Y轴，得到高度a配合部件一周的磁场强度分布图；(3)分析数据得到结果：是否有勒伤缺陷 在上述高度a配合部件一周的磁场强度分布图中，通过图：当磁场强度起伏较大时，即认为其有勒伤缺陷；当磁场强度起伏不大时，即认为其无勒伤缺陷。
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