[发明专利]检查相位变化类型光记录介质的方法无效
| 申请号： | 200610005934.X | 申请日： | 2006-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN1822149A | 公开（公告）日： | 2006-08-23 |
| 发明（设计）人： | 恒木启三 | 申请（专利权）人： | 索尼株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/24 | 分类号： | G11B7/24 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王萍 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的目的在于，对于反复地可重写的相位变化类型光记录介质，允许基于室温环境下的检查评估由于高温环境中的重复的改写而造成的再生信号的质量下降。用某一个激光功率对同一个道反复地执行改写，该激光功率是高于一个激光功率的给定值，利用该一个激光功率，对于其中提供了由因为施加的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料制成的记录层的相位变化类型光记录介质，在室温下，再生信号的抖动变得最小。测量反复地执行改写给定次数之后的再生信号的抖动值，并判断所测量的抖动值是否等于或小于参考值，从而评估再生信号的质量的下降。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 相位 变化 类型 记录 介质 方法 | ||
【主权项】：
1、一种检查相位变化类型光记录介质的方法，包括下列步骤：用为比一个激光功率高的给定值的激光功率对同一个道反复地执行改写，利用该一个激光功率，对于其中提供了由因为施加的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料制成的记录层的相位变化类型光记录介质，在室温下再生信号的抖动变得最小；在执行改写给定次数之后，测量再生信号的抖动值；以及判断所测量的抖动值是否等于或小于参考值。
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