[发明专利]多通道荧光测量光学系统及多通道荧光样本分析仪有效
| 申请号： | 200610005877.5 | 申请日： | 2006-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN1815196A | 公开（公告）日： | 2006-08-09 |
| 发明（设计）人： | 玉景植;金洙贤;金珍泰;吴光昱 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马高平;杨梧 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供一种多通道荧光测量光学系统及使用该光学系统的多通道荧光样本分析仪。将光照射在多个样本通道并就年样本发出的荧光的多通道荧光测量光学系统，包括：光源；用于使光源发出的光具有均匀强度分布的积分器；具有其上配置有样本的多个样本通道的样本架，其中利用从积分器发出的光来激励所述样本；以及置于所述积分器和样本架之间用于以预定比例分开入射光的分束器。由于利用光纤束和光电二极管能够检测荧光的光强，故可以大幅度缩减制造成本并微型化光学系统。 | ||
| 搜索关键词： | 通道 荧光 测量 光学系统 样本 分析 | ||
【主权项】：
1.一种将光照射在多个样本通道上并检测样本发出的荧光的多通道荧光测量光学系统，其包括：光源；用于使所述光源发出的光具有均匀强度分布的积分器；具有其上配置有样本的多个样本通道的样本架，其中，利用从所述积分器发出的光来激励所述样本；以及置于所述积分器和所述样本架之间、用于以预定比例分开入射光的分束器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610005877.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
