[发明专利]用于具有半导体集成电子装置用的垂直探针的测试头的接触探针无效
| 申请号： | 200580049441.X | 申请日： | 2005-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN101160531A | 公开（公告）日： | 2008-04-09 |
| 发明（设计）人： | 朱塞帕·克里帕;斯特法诺·费利奇 | 申请（专利权）人： | 科技探索有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 党晓林 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 意大利;IT |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于具有半导体集成电子装置用的垂直探针的测试头的接触探针。描述了一种用于测试头的接触探针(20)，在这种类型的测试头中，多个所述探针插入在相应板片中形成的导孔内，所述探针包括在一端配备有至少一个触头(22)的杆状主体(21)，该触头可有效确保与待测试的集成电子装置的对应接触片的机械接触和电接触。有利的是，所述杆状主体(21)具有不均匀的截面。另外，描述了一种测试头和一种用于获得根据本发明的接触探针的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 具有 半导体 集成 电子 装置 垂直 探针 测试 接触 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试头的接触探针(20)，所述测试头是这样一种类型的测试头，在该测试头中，多个所述探针插入在相应的板状保持件或板片中形成的导孔内，所述探针包括在一端配备有至少一个触头(22)的杆状主体(21)，该触头(22)可有效确保与待测试的集成电子装置的对应接触片的机械接触和电接触，所述接触探针(20)的特征在于，所述杆状主体(21)具有不均匀的截面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于科技探索有限公司，未经科技探索有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200580049441.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：硅片刻蚀方法
- 下一篇：用于分栅结构闪存的浮栅制作方法
