[发明专利]泄漏检测结构有效
| 申请号： | 200580036682.0 | 申请日： | 2005-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN101048286A | 公开（公告）日： | 2007-10-03 |
| 发明（设计）人： | M·A·德夫里斯;R·L·威尔逊;C·马利克 | 申请（专利权）人： | 惠普开发有限公司 |
| 主分类号： | B41J2/175 | 分类号： | B41J2/175 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 丁建春;廖凌玲 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 泄漏检测结构(64)的一个实施例包括具有泄漏检测表面(54)的传感器(19)以及相邻泄漏检测表面(54)定位的芯吸结构(66)，该芯吸结构(66)适于将流体芯吸到泄漏检测表面(54)上。 | ||
| 搜索关键词： | 泄漏 检测 结构 | ||
【主权项】：
1.一种泄漏检测结构(64)，包括：包括泄漏检测表面(54)的传感器(19)；以及相邻所述泄漏检测表面(54)定位的芯吸结构(66)，所述芯吸结构(66)适于将流体芯吸成与所述泄漏检测表面(54)接触。
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