[发明专利]成膜方法、成膜装置及存储介质无效
申请号: | 200580027616.7 | 申请日: | 2005-11-29 |
公开(公告)号: | CN101006199A | 公开(公告)日: | 2007-07-25 |
发明(设计)人: | 吉井直树;小岛康彦 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/52 | 分类号: | C23C16/52;C23C14/14;C23C14/34;C23C16/455;C23C28/02;H01L21/285;H01L21/3205;H01L23/52 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种成膜方法,即使在具有纵横比大的凹部的被处理体的表面使用凝集性高的金属的情况下,也能够形成连续的薄膜。该方法包括以下工序,将基板搬入反应容器内并进行载置的工序;向反应容器内供给包括第一金属化合物的原料气体、并使该第一金属化合物吸附于基板表面的工序;使该第一金属化合物与活性化还原性气体而得到的还原用等离子体接触,而得到第一金属层的工序;以及,使溅射用等离子体接触至少表面部是由与第一金属不同的第二金属所构成的靶电极,将逸出的第二金属注入第一金属层,得到合金层的工序,进行一次以上的这些吸附、还原、及合金化的一系列的循环。利用该方法,即使是在第一金属的凝集力强的情况下也能够抑制基板的移动,形成连续的膜厚小的薄膜。 | ||
搜索关键词: | 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种成膜方法,其特征在于,包括:将基板搬入反应容器内并载置于载置部上的工序;接着,向所述反应容器内供给包括第一金属化合物的原料气体、并使该第一金属化合物吸附于所述基板表面上的吸附工序;在向该化合物供给用于还原反应的能量的同时,使吸附在所述基板上的第一金属化合物接触还原用气体,由此进行还原,得到第一金属层的还原工序;以及在与所述基板相对、至少表面部是由与第一金属不同的第二金属所构成的靶电极上,使溅射用气体活性化而得到的溅射用等离子体相接触,将逸出的第二金属注入所述第一金属层中,得到第一金属及第二金属的合金层的合金化工序,进行一次以上的由所述吸附工序、还原工序、及合金化工序所构成的一系列的循环。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
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