[发明专利]用于定量确定局部松弛时间值的MR方法无效
| 申请号： | 200580027539.5 | 申请日： | 2005-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN101006356A | 公开（公告）日： | 2007-07-25 |
| 发明（设计）人： | H·达恩克;T·沙夫特 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/50 | 分类号： | G01R33/50;G01R33/565 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王庆海;张志醒 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于定量确定检测体积内的局部弛豫时间值的MR方法。首先，以相敏形式记录多个具有不同回波时间值(t1、t2、t3)的回波信号(1、2、3)。然后对于不同回波时间值(t1、t2、t3)由这些回波信号(1、2、3)重建合成MR图像(4、5、6)。接下来，对于每个像点由合成图像值的相位中的依据回波时间的变化来计算局部共振频率值(7)，然后由局部共振频率值(7)来计算局部磁场不均匀性初值(8)。本发明提出了由图像值的幅值中的依据回波时间的变化来确定局部弛豫时间值(10)并考虑到局部磁场不均匀性终值来实现局部弛豫时间值(10)的校正。将局部磁场不均匀性初值(8)作为用于确定局部磁场不均匀性终值的迭代优化程序(19)的开始值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 定量 确定 局部 松弛 时间 mr 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于在检测体积内定量确定局部弛豫时间值(T2*)的MR方法，包括以下的方法步骤：a)相敏地记录多个具有不同回波时间值(t1、t2、t3)的回波信号(1、2、3)；b)对于不同的回波时间值(t1、t2、t3)由回波信号(1、2、3)重建合成MR图像(4、5、6)；c)对于每个像点由合成图像值的相位中的依据回波时间的变化来计算局部共振频率值(7)；d)由局部共振频率值(7)来计算局部磁场不均匀性初值(8)；e)由图像值的幅值中的依据回波时间的变化来确定局部弛豫时间值(10)，并且考虑到局部磁场不均匀性终值来校正局部弛豫时间值(10)，其中将磁场不均匀性初值(8)作为用于确定局部磁场不均匀性终值的迭代优化程序(19)的开始值。
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