[发明专利]通过应用两个光谱计装置改善探测器利用的阶梯光栅－光谱计有效
| 申请号： | 200580026987.3 | 申请日： | 2005-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN101014841A | 公开（公告）日： | 2007-08-08 |
| 发明（设计）人： | H·贝克－罗斯;S·弗洛雷克;G·维塞曼;M·奥克鲁斯 | 申请（专利权）人： | 应用光学电子光学及光谱学开发研究所;分析科学促进学会 |
| 主分类号： | G01J3/18 | 分类号： | G01J3/18 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 曹若;刘华联 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种光谱计装置(10)具有一个光谱计(14)，用于在一个探测器(42)上产生一种来自辐射源的辐射的第一波长范围的光谱，它包含一个阶梯光栅(36)用于对于进入光谱计装置(10)里的辐射在一个光分散方向(46)上进行光谱分解；包含一个用于分散的元件(34)用于借助于对所述辐射在一个横向分散方向(48)上的光谱分散来进行序列分离，此横向分散方向与阶梯光栅(36)的主分散方向形成一个角度，因此可以产生具有多数分开序列(52)的二维光谱(50)；包含一个成像的光学装置(24，38)用于使通过入射间隙(20)进入光谱计装置(10)的辐射在一个成像平面(40)里成象，并且包含一个面积探测器(42)，它具有许多探测元件在成象平面(40)里成象，并且包含一个面积探测器(42)，它在成象平面(40)里具有许多探测元件的一种二维布置。所述装置的特征在于，设有另外一个光谱计(12)，它具有至少另外一个进行分散的元件(64)和另外一个成像的光学装置(60，66)，用于在同一个探测器(42)上产生一种来自一个辐射源的辐射的与第一波长范围不同的第二波长范围的光谱(68)。所述光谱可以按面积或者随时间在探测器上进行分离。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 应用 两个 光谱 装置 改善 探测器 利用 阶梯 光栅 | ||
【主权项】：
1.光谱计装置(10)，它具有一个光谱计(14)，用于在一个探测器(42)上产生一种来自辐射源的辐射的第一波长范围的光谱，包含有：(a)一个阶梯光栅(36)，用于对于进入到光谱计装置(10)中的辐射在一个主分散方向(46)上进行光谱分散，(b)一个进行分散的元件(34)，用于借助于对于所述辐射在一个横向分散方向(48)上的光谱分解来进行序列分离，此横向分散方向与阶梯光栅(36)的主分散方向形成一个角度，因此可产生一种具有多个分开序列(52)的二维光谱(50)，(c)一个成像的光学装置(24，38)，用于使通过入射间隙(20)进入到光谱计装置(10)里的辐射在一个成像平面里(40)里成像，并且(d)一个面积探测器(42)，它在成像平面(40)里具有许多探测器元件的一种二维布置，其特征在于，(e)设有另一个光谱计(12)，它具有至少另一个进行分散的元件(64)和另一个成像光学装置(60，66)，用于在同一个探测器(42)上产生一个与第一波长范围不同的、来自辐射源的辐射的第二波长范围的光谱(68)。
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