[发明专利]扫描可测试逻辑电路无效

专利信息
申请号: 200580026247.X 申请日: 2005-07-26
公开(公告)号: CN1993625A 公开(公告)日: 2007-07-04
发明(设计)人: F·J·特比斯特;A·M·G·彼得斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 龚海军;梁永
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 逻辑电路,包含:至少第一组合逻辑电路42;具有数据输入d和数据输出q的第一数据锁存器44,所述数据输出q被连接到所述第一组合逻辑电路42的输入;第二可扫描数据锁存器43,具有连接到所述第一数据锁存器44的数据输入d的输出q;第三可扫描数据锁存器47,具有连接到所述第一组合逻辑电路42的输出的输入d,其中第二可扫描数据锁存器43适合于由第一时钟clk1驱动,第一数据锁存器44和第三可扫描数据锁存器47适合于由第二时钟clk2驱动,第一和第二时钟clk1和clk2是非重叠时钟信号。
搜索关键词: 扫描 测试 逻辑电路
【主权项】:
1.逻辑电路,包含:-至少第一组合逻辑电路(42),-具有数据输入(d)和数据输出(q)的第一数据锁存器(44),所述数据输出(q)被连接到所述第一组合逻辑电路(42)的输入,-第二可扫描数据锁存器(43),具有连接到所述第一数据锁存器(44)的数据输入(d)的输出(q),以及-第三可扫描数据锁存器(47),具有连接到所述第一组合逻辑电路(42)的输出的输入(d),其中,第二可扫描数据锁存器(43)适合于由第一时钟(clk1)驱动,第一数据锁存器(44)和第三可扫描数据锁存器(47)适合于由第二时钟(clk2)驱动,第一和第二时钟(clk1和clk2)是非重叠时钟信号。
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