[发明专利]含氢碳膜无效
申请号: | 200580024200.X | 申请日: | 2005-04-28 |
公开(公告)号: | CN1989069A | 公开(公告)日: | 2007-06-27 |
发明(设计)人: | 织田一彦;松浦尚;后利彦 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | C01B31/02 | 分类号: | C01B31/02;G02B5/18;C23C14/06;C23C16/26 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 丁业平;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种具有新颖性能的含氢碳膜。例如,可以有效地防止在基底上形成的该含氢碳膜从基底上剥离。该含氢碳膜含有碳和氢。一种该含氢碳膜的氢含量大于50原子%并且小于65原子%、该膜的密度大于1.3g/cm3并且小于1.5g/cm3。另一种该含氢碳膜的氢含量大于0原子%并且小于50原子%、该膜的密度大于1.4g/cm3并且小于1.9g/cm3。再一种所述的含氢碳膜可以包括其中氢含量高于50原子%的区域和其中氢含量低于50原子%的区域。 | ||
搜索关键词: | 含氢碳膜 | ||
【主权项】:
1.一种含有碳和氢的含氢碳膜,其中,所述的含氢碳膜的氢含量大于50原子%并且小于65原子%,并且,所述的含氢碳膜的密度大于1.3g/cm3并且小于1.5g/cm3。
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