[发明专利]用于行李和人员检查的以反射和透射方式进行兆兆赫成像在审

专利信息
申请号: 200580023058.7 申请日: 2005-05-26
公开(公告)号: CN101203742A 公开(公告)日: 2008-06-18
发明(设计)人: 大卫·齐莫达斯;格雷格·斯塔克;史蒂文·威廉姆森 申请(专利权)人: 派克米瑞斯有限责任公司
主分类号: G01N21/35 分类号: G01N21/35;G01V8/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李玲
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及一种用于检测物品例如包裹、行李或衣服中的爆炸物或化学武器的系统,包括:一个或多个兆兆赫模块。每个模块或者产生或者接收或者产生和接收兆兆赫辐射。一些兆兆赫辐射从物品上被反射,其余的兆兆赫辐射通过物品被透射。处理器分析反射和透射的兆兆赫辐射信息,从而表征所述物品。
搜索关键词: 用于 行李 人员 检查 反射 透射 方式 进行 兆赫 成像
【主权项】:
1.一种用于检测物品的系统,包括:一个或多个兆兆赫模块,每个模块或者产生或者接收,或者产生和接收兆兆赫辐射,一些兆兆赫辐射被从物品反射,其余的兆兆赫辐射被通过物品透射;以及处理器,其分析透射和反射的兆兆赫辐射信息,从而表征所述物品。
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