[发明专利]用于行李和人员检查的以反射和透射方式进行兆兆赫成像在审
申请号: | 200580023058.7 | 申请日: | 2005-05-26 |
公开(公告)号: | CN101203742A | 公开(公告)日: | 2008-06-18 |
发明(设计)人: | 大卫·齐莫达斯;格雷格·斯塔克;史蒂文·威廉姆森 | 申请(专利权)人: | 派克米瑞斯有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35;G01V8/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李玲 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及一种用于检测物品例如包裹、行李或衣服中的爆炸物或化学武器的系统,包括:一个或多个兆兆赫模块。每个模块或者产生或者接收或者产生和接收兆兆赫辐射。一些兆兆赫辐射从物品上被反射,其余的兆兆赫辐射通过物品被透射。处理器分析反射和透射的兆兆赫辐射信息,从而表征所述物品。 | ||
搜索关键词: | 用于 行李 人员 检查 反射 透射 方式 进行 兆赫 成像 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测物品的系统,包括:一个或多个兆兆赫模块,每个模块或者产生或者接收,或者产生和接收兆兆赫辐射,一些兆兆赫辐射被从物品反射,其余的兆兆赫辐射被通过物品透射;以及处理器,其分析透射和反射的兆兆赫辐射信息,从而表征所述物品。
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