[发明专利]插座遮盖件和测试接口有效
| 申请号： | 200580019235.4 | 申请日： | 2005-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN1969192A | 公开（公告）日： | 2007-05-23 |
| 发明（设计）人： | 库尔特·戈德史密斯;詹姆斯·格雷利什 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319;G01R33/04;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京嘉和天工知识产权代理事务所 | 代理人： | 严慎 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及用于插座(例如平面栅格阵列(LGA)插座)的集成盖和测试器件，所述集成盖和测试器件起保护盖、测试器件和/或拾放盖的作用。具体地，在插座的制造中和/或插座附着在其上的印刷电路板(即PCB，例如主板)的制造中，所述集成盖提供保护能力并且还可以提供测试能力。因此，所述集成盖可以允许对插座和/或PCB的正确组装和连通性进行测试，而不需要在测试前移除集成盖以插入测试器件，或在测试后移除测试器件和替换所述盖。 | ||
| 搜索关键词： | 插座 遮盖 测试 接口 | ||
【主权项】：
1.一种装置，包括：第一侧，所述第一侧包括适合通过真空力附着来被附着的通常平坦的表面；盖部分，所述盖部分包括所述第一侧并且具有至少足以覆盖或者伸展在插座的多个触点之上的尺寸；与所述盖部分集成的测试器件部分，所述测试器件部分具有多个能量通道，以将对多个能量激励的响应提供给与所述第一侧相对设置的第二侧。
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