[发明专利]测位仪以及用于校准测位仪的方法有效
| 申请号： | 200580015139.2 | 申请日： | 2005-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN1954240A | 公开（公告）日： | 2007-04-25 |
| 发明（设计）人： | U·斯库尔特蒂－贝茨;B·哈泽;M·马勒;U·霍夫曼;R·克拉普夫;C·韦兰 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01V3/15 | 分类号： | G01V3/15;G01V3/08 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 曹若;胡强 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于对于被包围在介质中的物体进行探测的测位仪、特别是手持测位仪。该测位仪具有用于探测被包围在介质中的物体的第一装置、并且具有一个用于测位仪测量信号的控制及分析单元。根据本发明建议，该测位仪(56、57、58)具有第二探测装置(62、68、80、81)，这些探测装置使得对于测位仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的预先规定的距离d进行探测成为可能。此外，本发明还涉及一种用于校准测量仪的方法、特别是用于校准对于被包围在一种介质中的物体进行探测用的手持测位仪的方法，其中，只是在对于测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的距离d进行测量至少一次之后才进行用于校准测量仪(56、57、58)的基准测量。 | ||
| 搜索关键词： | 测位 以及 用于 校准 方法 | ||
【主权项】：
1.用于对于被包围在一种介质中的物体进行探测的测位仪、特别是手持测位仪，它具有用于探测被包围在介质中的物体的第一装置，以及具有一个用于测位仪测量信号的控制及分析单元，其特征在于，该探测仪(56、57、58)具有一个第二探测装置(62、68、80、81)，这些探测装置使得对于测位仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的可预定的距离d进行探测成为可能。
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