[发明专利]铜合金有效
申请号: | 200580014971.0 | 申请日: | 2005-05-26 |
公开(公告)号: | CN1950525A | 公开(公告)日: | 2007-04-18 |
发明(设计)人: | 田中信行;江口立彦;三原邦照 | 申请(专利权)人: | 古河电气工业株式会社 |
主分类号: | C22C9/06 | 分类号: | C22C9/06 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 宋莉;贾静环 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种用于电子器械及元件的铜合金,包含2.0~4.5质量%的镍和0.3~1.0质量%的硅,余量是铜和不可避免的杂质,其满足下列表达式:I{311}×A/(I{311}+I{220}+I{200})<1.5,其中I{311}代表来自板表面的{311}面的X射线衍射强度;I{220}代表来自板表面的{220}面的X射线衍射强度;I{200}代表来自板表面的{200}面的X射线衍射强度;和A(μm)代表晶粒大小,以及其具有良好的弯曲性能。 | ||
搜索关键词: | 铜合金 | ||
【主权项】:
1.一种用于电子器械及元件的铜合金,包含2.0~4.5质量%的镍和0.3~1.0质量%的硅,余量是铜和不可避免的杂质,其满足下列表达式(1):I{311}×A/(I{311}+I{220}+I{200})<1.5…(1)其中,在表达式(1)中,I{311}代表来自板表面的{311}面的X射线衍射强度;I{220}代表来自板表面的{220}面的X射线衍射强度;I{200}代表来自板表面的{200}面的X射线衍射强度;和A(μm)代表晶粒大小,以及其具有良好的弯曲性能。
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