[发明专利]分析装置有效
| 申请号： | 200580014877.5 | 申请日： | 2005-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN1950705A | 公开（公告）日： | 2007-04-18 |
| 发明（设计）人： | 高木康光;杉江久和;大槻俊之;西田宪正;本乡义清 | 申请（专利权）人： | 爱科来株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/02 | 分类号： | G01N35/02;G01N33/52;G01N35/04 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种分析装置(1)，其包括：用于载置分析用具(2)的载置部(11)，和用于进行分析用具(2)的测光的测光部(7)。在该分析装置(1)中，载置部(11)以分析用具(2)的试剂垫(20)的列朝向左右方向(D3、D4)的方式，载置分析用具(1)。测光部(7)设置在载置部(11)的里侧。而且，在多个试剂垫(20)在左右方向(D3、D4)上排列的状态下，向着测光部(7)，从前面将载置在载置部(11)上的分析用具(2)搬送至里侧(D1方向)。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种分析装置，其特征在于：利用在基材上设置有一个或多个试剂垫的分析用具，进行试样的分析，所述分析装置包括用于载置所述分析用具的载置部和用于进行所述分析用具的测光的测光部，并且可使所述分析用具沿着从所述载置部向所述测光部的搬送方向移动，所述载置部可选择下述两种状态载置所述分析用具：所述基材的设置有至少一个试剂垫的第一端部，相对于所述基材不设置所述一个或多个试剂垫的第二端部，位于与所述搬送方向正交的第一方向侧的状态；和所述第一端部相对于所述第二端部，位于与所述第一方向相反方向的第二方向侧的状态。
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