[发明专利]像差校正装置、像差校正方法、光拾波器无效

专利信息
申请号: 200580013491.2 申请日: 2005-04-14
公开(公告)号: CN1954374A 公开(公告)日: 2007-04-25
发明(设计)人: 小笠原昌和;藤木慎一 申请(专利权)人: 日本先锋公司
主分类号: G11B7/125 分类号: G11B7/125;G11B7/135;G02F1/13;G02F1/061;G02F1/1343
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种像差校正装置,其在成像光学系统中插入电光面板,进行该成像光学系统的像差校正,可利用一个电光面板校正3种或以上的像差。在电光面板的透明电极(12a、12b)的一方形成与慧差校正相关的分割区域的一部分(E00、E01、E02)和与像散校正相关的分割区域(E11~E18),在透明电极(12a、12b)的另一方形成与慧差校正相关的分割区域的剩余部分(E31、E32)和与球面像差校正相关的分割区域(E20、E21)。由此,可以形成分割成适合于各像差校正的电极图案的分割区域,能够将由该分割区域构成的透明电极的电极结构尽量简化,并简化施加到分割区域上的电压的控制。
搜索关键词: 校正 装置 方法 光拾波器
【主权项】:
1.一种像差校正装置,该像差校正装置在成像光学系统中插入电光面板,进行该成像光学系统的像差校正,其特征在于,所述电光面板具有一对透明电极,该透明电极由分割成可进行多种像差校正的电极图案的分割区域形成,在所述透明电极的一方形成与1种像差校正相关的分割区域的一部分,并且,在所述透明电极的另一方形成与所述1种像差校正相关的分割区域的剩余部分。
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