[发明专利]具有等离子体源线圈的等离子体室及使用该等离子体室蚀刻晶片的方法无效
申请号: | 200580008980.9 | 申请日: | 2005-03-24 |
公开(公告)号: | CN1934683A | 公开(公告)日: | 2007-03-21 |
发明(设计)人: | 金南宪 | 申请(专利权)人: | 自适应等离子体技术公司 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 杨生平;杨红梅 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 一种具有等离子体源线圈的等离子体室包括室体、等离子体源线圈和边缘衬套。该室体包括由侧壁、下围墙和上室顶限定的并且形成等离子体的反应空间。布置在该室顶上的等离子体源线圈包括对应于大于“2”的整数的M个单元线圈。该M个具有表示正整数的预定匝数“n”的单元线圈从处于中央部分的具有预定半径的中央衬套延伸,并沿着该中央衬套的圆周螺旋形地布置,从而在该反应空间中形成等离子体。边缘衬套布置在该室体的室顶与该等离子体源线圈之间,并配置成圆柱形的形式以与布置在该反应空间中的晶片的边缘重叠。 | ||
搜索关键词: | 具有 等离子体 线圈 使用 蚀刻 晶片 方法 | ||
【主权项】:
1.一种等离子体室,包括:室体,用于由侧壁、下围墙和上室顶来限定能够形成等离子体的反应空间;等离子体源线圈,布置在所述室顶上,包括布置成具有使用预定值n=a×(b/m)(其中“a”和“b”都是正整数,而“m”表示对应于大于“2”的整数的单元线圈数目)计算的预定匝数“n”的单元线圈,允许所述单元线圈从处于中央部分的具有预定半径的中央衬套延伸,并且允许所述单元线圈沿着所述中央衬套的圆周螺旋形地布置,从而在所述反应空间中形成等离子体;以及圆柱形的边缘衬套,其布置在所述室体的室顶与所述等离子体源线圈之间,并且与设置在所述反应空间中的晶片的边缘重叠。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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