[发明专利]试验条的光学分析设备和方法无效

专利信息
申请号: 200580005440.5 申请日: 2005-02-18
公开(公告)号: CN1922488A 公开(公告)日: 2007-02-28
发明(设计)人: 安德莱斯·布彻曼;斯蒂芬·詹尼;亚历山大·里兹克;迈克尔·斯德勒;布鲁诺·奥斯科 申请(专利权)人: 普利奥尼克斯股份公司
主分类号: G01N33/543 分类号: G01N33/543;G01N33/52;G01N21/76;G01N21/01;B01L9/00;B26F1/38
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 董莘
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 发明涉及试验条的光学分析设备,其中试验条分别具有至少一个受限区域,在受限区域中在与待检验样品接触以后可以生成可光学检测的信号,这种光学分析设备具有定位装置和图像生成装置,其中定位装置对于至少一个试验条或至少一个包括多个以特定平面结构连接的试验条的试验条单元具有容纳处,图像生成装置以图像方式记录至少一个受限区域,并且将记录结果传送到图像分析装置,其中图像分析装置定量地和/或定性地分析每个试验条的可光学检测信息。
搜索关键词: 试验 光学 分析 设备 方法
【主权项】:
1.用于光学分析试验条(12)的设备,其中每个所述试验条(12)具有至少一个受限区域(13),在所述受限区域中,在与待检验样品接触以后可以生成可光学检测的信号,所述设备包括:a)定位装置(21),具有至少一个容纳处,用于aa)试验条和/或ab)包括多个以限定的平面结构连接的试验条(12)的试验条单元(11);b)图像生成装置,其以图像方式记录至少一个放置在所述定位装置的容纳处中的试验条或试验条单元的受限区域(13),并将记录结果传送到图像分析装置;c)其中,图像分析装置定性地和/或定量地分析每个试验条的可光学检测的信号。
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