[实用新型]使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路无效
| 申请号： | 200520103801.7 | 申请日： | 2005-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN2837859Y | 公开（公告）日： | 2006-11-15 |
| 发明（设计）人： | 滕贞勇;许益彰 | 申请（专利权）人： | 普诚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 北京中安信知识产权代理事务所 | 代理人： | 徐林 |
| 地址： | 台湾省台北县新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及使用一般低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，使高压IC的高压输出转换成一般低压逻辑测试机所能接受的电压位准。一种使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，该接口电路包括：第一控制器，衔接待测高压IC的输出脚位，藉其内部的控制开关的开、闭而进行高压IC的输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试；衰减电路，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，以衰减高压IC的输出至低压逻辑测试机所能接受的电压范围；以及第二控制器，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，藉其内部的控制开关的开、闭，并配合第一控制器而进行高压IC的输出是否通过衰减电路。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 低压 逻辑 测试 高压 ic 接口 电路 | ||
【主权项】：
1、一种使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，该接口电路介于低压逻辑测试机与待测高压IC之间，其中该待测高压IC系藉由一高压电源供应器提供高压电源以进行测试，其特征在于：所述接口电路包括：一第一控制器，衔接待测高压IC的输出脚位，藉其内部的控制开关的开、闭而进行高压IC的输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试；一衰减电路，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，以衰减高压IC的输出至低压逻辑测试机所能接受的电压范围；以及一第二控制器，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，藉其内部的控制开关的开、闭，并配合第一控制器而进行高压IC的输出是否通过衰减电路。
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