[实用新型]一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置无效
| 申请号： | 200520097279.6 | 申请日： | 2005-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN2847309Y | 公开（公告）日： | 2006-12-13 |
| 发明（设计）人： | 颜家圣;吴拥军;邹宗林;羊北平 | 申请（专利权）人： | 襄樊台基半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 襄樊市开创专利事务所 | 代理人： | 李富维 |
| 地址： | 441021湖北省襄樊市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型为一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置。属于功率电力电子器件(整流管、晶闸管、IGBT、GTO、IGCT等)的热阻技术领域。它主要解决传统热阻测试设备复杂、投资大、测试精度低、测试结果重复性差的问题。它的主要特征是包括可调整压力的恒定压力夹具；在该恒定压力夹具的底部设有发热底板，上部设有冷却终端；并且在发热底板、冷却终端上分别设有标准热阻，建立一条包含热源、标准热阻、被测器件和冷却终端的热流通道，通过测试标准热阻和被测器件两端的温度值，可以准确计算出器件的热阻。特别适用于各类平板式功率半导体器件热阻的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平板 半导体器件 稳态 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种测试平板式功率半导体器件热阻的装置，其特征是：包括可调整压力的恒定压力夹具(10)；在该恒定压力夹具(10)的底部设有发热底板(5)，上部设有冷却终端(9)；并且在发热底板(5)、冷却终端(9)上分别设有标准热阻(6、8)。
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