[实用新型]聚焦电位器陶瓷基板自动检测设备无效
| 申请号： | 200520035714.2 | 申请日： | 2005-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN2842436Y | 公开（公告）日： | 2006-11-29 |
| 发明（设计）人： | 张涛;顾尚林;杨建 | 申请（专利权）人： | 四川长虹电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所 | 代理人： | 李顺德 |
| 地址： | 621000四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电子元件参数检测设备，特别涉及聚焦电位器陶瓷基板检测设备。本实用新型解决了现有聚焦电位器陶瓷基板检测技术人为干扰严重，数据不准确，检测效率低的问题，公开了一种检测数据精度高，检测效率高的聚焦电位器陶瓷基板自动检测设备。本实用新型的技术方案是：聚焦电位器陶瓷基板自动检测设备，包括供料装置、传送装置、定位装置、检测装置、回收装置及控制器；所述供料装置、传送装置、定位装置、检测装置、回收装置顺序连接；所述控制器分别与供料装置、传送装置、定位装置、检测装置、回收装置连接。本实用新型的有益效果是，检测数据精度高，检测效率高，检测过程自动进行，无需人为干预，不会影响产品质量。 | ||
| 搜索关键词： | 聚焦 电位器 陶瓷 自动检测 设备 | ||
【主权项】：
1.聚焦电位器陶瓷基板自动检测设备，包括供料装置、传送装置、定位装置、检测装置、回收装置及控制器；所述供料装置、传送装置、定位装置、检测装置、回收装置顺序连接；所述控制器分别与供料装置、传送装置、定位装置、检测装置、回收装置连接。
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