[实用新型]可控硅状态取样装置无效
| 申请号： | 200520026243.9 | 申请日： | 2005-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN2814759Y | 公开（公告）日： | 2006-09-06 |
| 发明（设计）人： | 赵继华 | 申请（专利权）人： | 天津市商科机电设备有限公司 |
| 主分类号： | H02H7/12 | 分类号： | H02H7/12;H02M5/257 |
| 代理公司： | 天津市三利专利商标代理有限公司 | 代理人： | 刘英兰 |
| 地址： | 30013*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种可控硅状态取样装置，连接于可控硅与主控电路之间；其特征在于该装置由电阻、稳压二极管连接组成，即稳压二极管两端分别串联电阻与可控硅并联。当可控硅关断时，电源电压加在取样电阻两端，有电流流经取样电路回路；当可控硅导通时，取样电阻两端无电压，故无电流流经取样电阻回路；通过位于主控电路板内的光电耦合装置，准确地检测到可控硅导通状态。因电路中的电阻器件对谐波分量不敏感，故该取样装置的可靠性大大提高，用于生产微机电阻焊机控制箱，防止过热烧毁，提高检测可靠性。该装置结构简单，使用方便；抗冲击能力强，提高产品质量；有效降低成本，延长使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 可控硅 状态 取样 装置 | ||
【主权项】：
1、一种可控硅状态取样装置，连接于可控硅与主控电路之间；其特征在于该装置由电阻、稳压二极管连接组成，即稳压二极管两端分别串联电阻与可控硅并联。
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