[实用新型]回转体壁厚测量装置无效

专利信息
申请号: 200520025174.X 申请日: 2005-01-21
公开(公告)号: CN2767959Y 公开(公告)日: 2006-03-29
发明(设计)人: 张国雄;裘祖荣;刘书桂;张宏伟;洪欣;郭敬滨 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 江镇华
地址: 300072天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型涉及公开了一种回转体壁厚测量装置,包括基座、测量架、固定被测工件的工件安装部件和测头,工件安装部件由回转工作台和滚动轮组成。基座通过其上的导轨连接有可在其导轨上沿X2方向运动的第一测量架和沿X1方向运动第二测量架。第一测量架上设置有根据测量需要能旋转到所需角度的转架,转架上设置有Z向导轨,Z向导轨上设置有可在其上沿Z2方向运动的滑架,滑架设置有测座和第二测头,测座设置长臂,长臂设置有第一测头,回转工作台设置有第三测头。第二测量架的主轴上设置有第四测头。本实用新型能保证被测工件的轴线方向准确,不会因自重使轴线方向产生偏差,可以使测头和工件的运动误差基本上不影响测量精度,内外测头同时测量还可减小了测量力引起的薄壁件变形。
搜索关键词: 回转 体壁 测量 装置
【主权项】:
1.一种回转体壁厚测量装置,包括基座、测量架、固定被测工件的工件安装部件和测头,工件安装部件由回转工作台和滚动轮组成,其特征是,所述基座通过其上的导轨连接有第一测量架,第一测量架可在其导轨上沿X2方向运动,所述基座设置有用于测量第一测量架位移的第一光栅尺,第一测量架设置有用于读取第一测量架位移数据的第一读数头;第一测量架上设置有根据测量需要能旋转到所需角度的转架,转架上设置有指示转架旋转角度的角度编码器;转架上设置有Z向导轨,Z向导轨上设置有滑架,滑架可在其Z向导轨上沿Z2方向运动,Z向导轨上设置有测量滑架位移的第二光栅尺,滑架设置有用于读取所述滑架位移数据的第二读数头;所述滑架设置有测座和第二测头,测座设置长臂,长臂设置有第一测头;所述回转工作台设置有第三测头。
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