[发明专利]LSI的测试方法

摘要

本发明提供一种LSI的测试方法，能够高精确度地检测出有延迟故障的不良LSI。在步骤(S4、S4A)，生成分别用终点的FF取入信号变化后及变化前的信号时的第一及第二观测用测试模式。在步骤(S5、S5A)，分别基于第一及第二观测用测试模式生成第一及第二延迟故障测试模式。进而，在步骤(S6，S7)中使用第一延迟故障测试模式对LSI进行测试，在步骤(S9，S10)中使用第二延迟故障测试模式对同一LSI进行测试。然后，如果两个测试的结果两方均正常则为合格。

主权项

1.一种LSI的测试方法，在具有组合电路和设置在其输入侧与输出侧的扫描触发器的LSI中，对该组合电路的延迟进行测试，上述LSI的测试方法的特征在于，进行以下处理：对上述组合电路的构成信息和成为测试对象的输入侧的起点的扫描触发器以及输出侧的终点的扫描触发器进行指定的指定处理；为使信号变化从上述指定处理中所指定的起点至终点进行传输，将该起点的扫描触发器的信号值，作为初始化测试模式进行生成的初始值生成处理；将用上述终点的扫描触发器取入了上述初始化测试模式的信号值变化后的值时的信号值，作为第一观测用测试模式进行生成的第一观测值生成处理；将用上述终点的扫描触发器取入了上述初始化测试模式的信号值变化前的值时的信号值，作为第二观测用测试模式进行生成的第二观测值生成处理；基于上述第一观测用测试模式生成第一延迟故障测试模式的第一延迟故障模式生成处理；基于上述第二观测用测试模式生成第二延迟故障测试模式的第二延迟故障模式生成处理；以及在使用了上述第一及第二延迟故障测试模式的上述LSI的延迟故障测试中不存在延迟故障的情况下，判定为该LSI正常的判定处理。