[发明专利]快速检测滴丸剂外观质量的近红外漫反射光谱法有效
| 申请号: | 200510130632.0 | 申请日: | 2005-12-16 |
| 公开(公告)号: | CN1982873A | 公开(公告)日: | 2007-06-20 |
| 发明(设计)人: | 瞿海滨;刘雪松;程翼宇;李文;刘金平;章顺楠;刘占强;董海鸥;陈永;杨海雷;张继仲;曾凯 | 申请(专利权)人: | 天津天士力制药股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/49 | 分类号: | G01N21/49 |
| 代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所 | 代理人: | 余长江 |
| 地址: | 300402天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | 本发明提供了一种新型的滴丸剂外观质量快速检测方法。首先,使用傅立叶变换近红外光谱仪采集已知外观次品率的滴丸样品的近红外(NIR)漫反射光谱,光谱扫描范围10000-4000cm-1,并对原始光谱进行预处理。然后,运用回归方法建立滴丸NIR光谱与外观次品率之间的校正模型,并用此模型检测待测滴丸样品的外观次品率。本方法应用于复方丹参滴丸、柴胡滴丸和芪参益气滴丸外观质量的快速检测,结果表明,NIR漫反射光谱法可直接检测滴丸剂外观次品率。该方法适用于滴丸剂外观质量的快速检测,是一种方便、快速、无损的绿色分析技术。 | ||
| 搜索关键词: | 快速 检测 丸剂 外观 质量 红外 漫反射 光谱 | ||
【主权项】:
1.一种滴丸剂外观质量快速检测方法,包括下列步骤:(1)采集已知次品率的滴丸样品的近红外漫反射光谱;(2)对原始光谱进行预处理,消除各种干扰因素引起的光谱偏差;(3)建立滴丸近红外漫反射光谱与其外观次品率之间的校正模型;(4)采集待测样品的近红外漫反射光谱;(5)应用所建模型对待测样品光谱进行预处理,预测待测样品的外观次品率。
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