[发明专利]半导体装置无效
| 申请号: | 200510127225.4 | 申请日: | 2005-11-25 |
| 公开(公告)号: | CN1783491A | 公开(公告)日: | 2006-06-07 |
| 发明(设计)人: | 入野仁 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L27/088;H01L23/60 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 陆锦华;樊卫民 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 一种半导体装置,使接受信号的电路侧的ESD抗性进一步提高。反相器电路(INV1)为了电源供给而与接地布线(GND1)连接,通过PMOS晶体管(MP5)而与电源布线(VDD1)连接。反相器电路(INV2)为了电源供给而与接地布线(GND2)和电源布线(VDD2)连接,输入节点与反相器电路(INV1)的输出节点连接。还有,接地布线(GND1)和接地布线(GND2)通过保护元件(PE0)而连接。在正常动作时,反相器电路(INV3)的输出为H电平,反相器电路(INV4)的输出为L电平,PMOS晶体管(MP5)导通。在施加ESD时,电源布线(VDD2)悬浮,反相器电路(INV4)的输出为H电平,PMOS晶体管(MP5)截止,与施加ESD伴随的电流不会流入反相器电路(INV2)中。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于具有:检测出冲击进入了从外部供给的电源的布线中这一情况,在到内部电路去的电源供给路径和从所述内部电路出来的信号输出路径之间进行阻断的电路。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





