[发明专利]一种多晶硅刻蚀中的干法清洗工艺有效

专利信息
申请号: 200510126458.2 申请日: 2005-12-09
公开(公告)号: CN1847458A 公开(公告)日: 2006-10-18
发明(设计)人: 白志民 申请(专利权)人: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
主分类号: C23F4/00 分类号: C23F4/00;H01L21/00;H01L21/3065
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 代理人: 王常风
地址: 100016*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种多晶硅刻蚀中的干法清洗工艺,该工艺包括点火步和清洗步,其中工艺气体为单纯的O2,它对阳极氧化的腔室表面没有任何伤害,同时又可以保证腔室的工艺条件对于每一片进来的晶圆都是相同的。该工艺既能够维持工艺的稳定性,又降低了颗粒的产生,延长了零件的使用寿命。
搜索关键词: 一种 多晶 刻蚀 中的 清洗 工艺
【主权项】:
1、一种多晶硅刻蚀中的干法清洗工艺,包括以下步骤:点火步和清洗步,其特征在于所用工艺气体为O2。
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