[发明专利]制造具有外部接触连接的半导体元件的方法无效

专利信息
申请号: 200510118766.0 申请日: 2005-10-31
公开(公告)号: CN1783447A 公开(公告)日: 2006-06-07
发明(设计)人: 哈里·黑德勒;托尓斯藤·迈耶 申请(专利权)人: 印芬龙科技股份有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L21/28
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱进桂
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 依据本发明的方法提供了载体1,在所述载体上在边界线100之间设置一个或多个半导体元件,半导体元件的半导体接触连接区域3位于载体1的第一表面200之上。然后在载体中引入具有倾斜侧壁108的圆锥形沟102,所述倾斜侧壁108沿着边界线100运转。在随后的方法步骤中形成将半导体接触连接区域3的至少一个连接至沟102的至少一个倾斜侧壁108的重新布线装置5。然后从与第一表面200相对的一侧变薄载体1。在这种情况中,变薄载体1,至少直至暴露沟底103。在变薄载体1之前立即施加的粘性载体6的去除之后,因此得到无导线的单片化半导体元件。
搜索关键词: 制造 具有 外部 接触 连接 半导体 元件 方法
【主权项】:
1、一种用于制备具有外部接触连接区域的半导体元件的方法,所述方法具有下面的步骤:a)提供载体(1),在所述载体上至少一个半导体元件设置在边界线(100)之间,半导体元件的至少一个半导体接触连接区域(3)位于载体(1)的第一表面(200)之上;b)在载体(1)中引入具有倾斜侧壁(108)和沟底(103)的圆锥形沟(102),所述倾斜侧壁(108)相对于载体(1)具有0°至90°的范围中的倾斜,沿着边界线(100)设置所述圆锥形沟(102);c)施加和图案形成导电层,以形成重新布线装置(5),从而将至少一个半导体接触连接区域(3)连接至沟(102)的一个倾斜侧壁(108);d)使具有粘附表面的载体(6)适于第一表面(200)的侧面;e)从与第一表面(200)相对的一侧变薄载体(1),至少直至暴露沟底(103),从而单片化重新布线的半导体元件。
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