[发明专利]制造具有外部接触连接的半导体元件的方法无效
申请号: | 200510118766.0 | 申请日: | 2005-10-31 |
公开(公告)号: | CN1783447A | 公开(公告)日: | 2006-06-07 |
发明(设计)人: | 哈里·黑德勒;托尓斯藤·迈耶 | 申请(专利权)人: | 印芬龙科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/28 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱进桂 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 依据本发明的方法提供了载体1,在所述载体上在边界线100之间设置一个或多个半导体元件,半导体元件的半导体接触连接区域3位于载体1的第一表面200之上。然后在载体中引入具有倾斜侧壁108的圆锥形沟102,所述倾斜侧壁108沿着边界线100运转。在随后的方法步骤中形成将半导体接触连接区域3的至少一个连接至沟102的至少一个倾斜侧壁108的重新布线装置5。然后从与第一表面200相对的一侧变薄载体1。在这种情况中,变薄载体1,至少直至暴露沟底103。在变薄载体1之前立即施加的粘性载体6的去除之后,因此得到无导线的单片化半导体元件。 | ||
搜索关键词: | 制造 具有 外部 接触 连接 半导体 元件 方法 | ||
【主权项】:
1、一种用于制备具有外部接触连接区域的半导体元件的方法,所述方法具有下面的步骤:a)提供载体(1),在所述载体上至少一个半导体元件设置在边界线(100)之间,半导体元件的至少一个半导体接触连接区域(3)位于载体(1)的第一表面(200)之上;b)在载体(1)中引入具有倾斜侧壁(108)和沟底(103)的圆锥形沟(102),所述倾斜侧壁(108)相对于载体(1)具有0°至90°的范围中的倾斜,沿着边界线(100)设置所述圆锥形沟(102);c)施加和图案形成导电层,以形成重新布线装置(5),从而将至少一个半导体接触连接区域(3)连接至沟(102)的一个倾斜侧壁(108);d)使具有粘附表面的载体(6)适于第一表面(200)的侧面;e)从与第一表面(200)相对的一侧变薄载体(1),至少直至暴露沟底(103),从而单片化重新布线的半导体元件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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