[发明专利]一种基于绝缘体上硅片的应力传感器芯片有效
| 申请号: | 200510117116.4 | 申请日: | 2005-11-01 |
| 公开(公告)号: | CN1755946A | 公开(公告)日: | 2006-04-05 |
| 发明(设计)人: | 王喆垚;田阔;潘立阳;胡朝红;王建锋;刘理天 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
| 主分类号: | H01L29/84 | 分类号: | H01L29/84;H01L21/66;G01L1/18 |
| 代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李光松 |
| 地址: | 100084北*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了属于高温力学测量以及集成电路制造、封装和测量技术领域的一种基于绝缘体上硅片的应力传感器芯片。在硅衬底上制作二氧化硅绝缘层,并在二氧化硅绝缘层上制作应力敏感元件层。其优点是传感器芯片可以测量全部6个方向的应力,同时,SOI衬底制造的应力传感器不使用反向偏置的pn结作为绝缘,即在高温下仍能保持绝缘性,保证了传感器芯片工作的可靠性,传感器芯片能够工作在600度的高温环境。同时,这种用两种不同晶向的单晶硅组成的SOI制造的应力传感器芯片,在取代被测集成电路管芯对其进行应力测量时,能够再现实际集成电路芯片的应力情况,并准确测量芯片所受到的全部六个应力分量。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 基于 绝缘体 硅片 应力 传感器 芯片 | ||
【主权项】:
1.一种基于绝缘体上硅片的应力传感器芯片,其特征在于:所述测量硅片应力的传感器芯片为硅衬底(1)上制作二氧化硅绝缘层(2),并二氧化硅绝缘层(2)上制作应力敏感元件层(3)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510117116.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类





