[发明专利]改善了与测试线的连接的薄膜晶体管阵列面板有效
| 申请号： | 200510115685.5 | 申请日： | 2005-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN1773357A | 公开（公告）日： | 2006-05-17 |
| 发明（设计）人： | 朴政遇 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G02F1/1368 | 分类号： | G02F1/1368 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩明星;谭昌驰 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种改善了显示信号线和测试线之间接触的薄膜晶体管(TFT)阵列面板。TFT阵列面板包括：栅极线和数据线，彼此交叉；开关元件，与栅极线和数据线连接；至少一条测试线，位于栅极线或者数据线的端部附近。绝缘层覆盖栅极线、数据线和开关元件，并且具有暴露栅极线或者数据线的端部的第一接触孔和暴露测试线的第二接触孔。辅助测试线形成在绝缘层上，并且与导电层公共连接，其中，导电层通过第一接触孔和第二接触孔将至少一条测试线与栅极线或者数据线连接。 | ||
| 搜索关键词： | 改善 测试 连接 薄膜晶体管 阵列 面板 | ||
【主权项】：
1、一种薄膜晶体管阵列面板，包括：多条栅极线；多条数据线，与所述栅极线交叉；多个开关元件，分别与所述栅极线和所述数据线连接；多个像素电极，分别与所述开关元件连接；至少一条测试线，位于所述栅极线或者所述数据线的端部附近；绝缘层，覆盖所述栅极线、所述数据线和所述开关元件，并且具有暴露所述栅极线的所述端部或者所述数据线的所述端部的多个第一接触孔和暴露所述测试线的多个第二接触孔；多条辅助测试线，形成在所述绝缘层上，并且与多个导电层公共连接，其中，所述导电层通过所述第一接触孔和所述第二接触孔将至少一条测试线与所述栅极线或者所述数据线连接。
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